测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，***用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
CAL镀层标准片适用于费希尔Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、博曼BOWMAN、禾苗、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的设备。
美国CALMETRIC公司的所有标准片，都会对标准片进行重新鉴定，其所有证书都是符合NIST（National Institute of Standa*** ａnd Technology美国***与技术研究院）标准或ANSI（American National Standa*** Institute美国***学会）标准。每一片标准片都由具有资质的***第三方出具校准证书。
X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。
我们除了可以提供X射线测厚仪标准片之外，还可以提供β射线测厚仪和库伦测厚仪标准片及库仑测厚仪的标准测试***。并有X射线测厚仪、β射线测厚仪、磁感应测厚仪、涡电流测厚仪、库仑测厚仪等出售。
薄片类型：（以下为常规厚度）
量测成份： | 厚度值（单位：μm） |
ALUMINUM (Al) | 1.00、3.00、5.00、12.5 |
CADMIUM (Cd) | 1.00、2.00、5.00、10.0、15.0 |
CHROMIUM (Cr) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0 |
COBALT (Co) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00 |
COPPER (Cu) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、35.0 |
GOLD (Au) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
IRON (Fe) | 2.00、6.00 |
LEAD (Pb) | 0.25、1.00、2.00、4.00、9.00 |
NICKEL (Ni) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、2.50、3.00、5.00、8.00、10.0、20.0、27.5 |
NICKEL-PHOSPHORUS (Ni-P, 8% P) | 2.50、6.00、9.00、18.0 |
PALLADIUM (Pd) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
PLATINUM (Pt) | 0.50、1.00 |
SILVER (Ag) | 0.10、0.25、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、30.0 |
SOLDER (Sn-Pb) | 5.00、6.00、10.0、14.0（60%Sn）5.00、6.00、14.0（90%Sn） |
TIN (Sn) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、40.0、60.0 |
TITANIUM (Ti) | 0.50、1.00、5.00、10.0 |
ZINC (Zn) | 2.50、10.0、20.0 |