北京纳克无损(图)-对比试样校准机构-对比试样校准

对比试样校准测量注意事项：

⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。

⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。

⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

对比试样校准示值显现不稳定？

致使涂层测厚仪示值显现不稳定的要素主要是来自工件本身的资料和构造的特别性，对比试样校准方案，比方工件本身是不是为导磁性资料，假如是导磁性资料咱们就要挑选磁性涂层测厚仪，对比试样校准哪家好，假如工件为导电体，咱们就得挑选涡流涂层测厚仪。再者，被测件的外表粗糙度和附着物也是致使仪器示值显现不稳定的重要要素，测厚仪的探头对那些阻碍与覆盖层外表紧密触摸的附着物质极其灵敏。有必要确保探头与覆盖层外表直触摸摸。因而，扫除此种毛病的关键即是：测量前铲除被测件触摸面的尘埃、细屑、油脂及腐蚀产物等附着物，但不要除去任何覆盖层物质。再有即是在进行体系调零时，所运用的基体外表也有必要是清洗、润滑的。如感受测量成果差错比较大时，请先用仪器装备的塑料校准片做一轮测验，如违背答应差错较远则有也许是仪器本身出了问题，需返厂家检修。在体系校按时没有挑选适宜的基体。基体平面为7mm，小厚度为 0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。

 对比试样校准探头选择

超声波测厚仪探头根据性能和直径分类主要有7MHz/φ6mm探头、5MHz/φ10mm探头、2.5MHz/φ14mm探头、5MHz/φ8mm使用某一探头前应先在仪器上选择对应的探头按“ENTER”或“确认”键保存，下次开机时，对比试样校准，探头为本次选择的探头。为保证仪器精度和稳定性，建议不要互换探头。仪器使用后，应擦去探头及仪器上的耦合剂和污垢。