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射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，荧光光谱报价，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非***式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法***，考古学和艺术品，例如油画和壁画。

荧光光谱

1852年Stokes在考察奎宁和叶绿素的荧光时，用分光计观察到荧光波长比入射光波长稍长些。经过判明，国产荧光光谱报价，这种现象不是由光的漫射作用引起的，而是这些物质在吸收光能后重新出的不同波长的光。因此，他引入荧光是光发射的概念。荧光光谱先要知道荧光，荧光是物质吸收电磁辐射后受到激发，受激发原子或分子在去激发过程中再发射波长与激发辐射波长相同或不同的辐射。当激发光源停止辐照试样以后，Edinburgh荧光光谱报价，再发射过程立刻停止，这种再发射的光称为荧光。

荧光光谱

不同结构荧光化合物都有特征的激发光谱和发射光谱，Techcomp荧光光谱报价，因此可以将荧光物质的激发光谱与发射光谱的形状、峰位与标准溶液的光谱图进行比较，从而达到定性分析的目的，在低浓度时，溶液的荧光强度与荧光物质的浓度成正比：F=Kc。其中，F为荧光强度，c为荧光物质浓度，K为比例系数。这就是荧光光谱定量分析的依据。