




对比试样校准声速调节
超声波测厚仪的声速变了,测量值就会变。例,在调节声速时,标准试样/块校准方案,按一下“ENTER”键则声速快速地调整为5900M/S。在菜单中选择“声速”或“声速调整”,按住“CAL”或“校准”键两秒左右,声速就快速地调整为5900M/S,再按“ENTER”或“确认”键,就返回到测量状态。如果测量还存在误差,测量仪器上的标准试块,标准试样/块校准,液晶应该显示“4.0”或“4.00mm”,若是其数字,则在一边测量试块一边按住“CAL”或“校准”键2秒左右,直到数字变成“4.0”或“4.00mm”,即完成了对仪器的校准,就可以准确无误地进行测量了。

对比试样校准测量方法
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,标准试样/块校准报价,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有射线源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

对比试样校准原理
1. 复型测量法 一种间接的测量方法,通过将可塑性材料充满在人工缺陷内,经过凝固成型后取出,直观、形象、逼 真地再现人工缺陷的立体形貌,标准试样/块校准哪家好,取点、线、断面采用相应精度的量具对人工缺陷长度、宽度、深度测量,获 得人工缺陷的尺寸数据。
2. 显微测量法 直接通过读数显微镜对人工缺陷放大后,以光学成像或聚焦方法瞄准边缘轮廓或表面,通过X、Y、Z轴在缺陷上移动的距离直接测量人工槽的长度、宽度、深度及通孔的直径。

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