CT检测分立探测器
工业CT所用的探测器有两个主要的类型—分立探测器和面探测器。而分立探测器常用的X射线探测器有气体和闪烁两大类。
气体探测器具有天然的准直特性，限制了散射线的影响，几乎没有窜扰，且器件一致性好。缺点是探测效率不易提高，高能应用有一定限制。其次探测单元间隔为数毫米，对于有些应用显得太大。
CT检测平板探测器
平板探测器通常用表面覆盖数百微米的闪烁晶体（如CsI）的非晶态硅或非晶态硒做成。像素尺寸127 或200μm，平板尺寸大约45cm（18in）。读出速度大约3～7.5帧/s。优点是使用比较简单，没有图像扭曲。图像质量接近于胶片照相，射线CT检测价格，基本上可以作为图像增强器的升级换代产品。主要缺点是表面覆盖的闪烁晶体不能太厚，射线CT检测机构，对高能X 射线探测效率低；难以解决散射和窜扰问题，使动态范围减小。在较高能量应用时，必须对电子电路进行射线屏蔽。一般说使用在150kV以下的低能效果较好。
CT检测应用闪烁体的分立探测器的主要优点
应用闪烁体的分立探测器的主要优点是：闪烁体在射线方向上的深度可以不受限制，从而使射入的大部分光子被俘获，提高探测效率。尤其在高能条件下，射线CT检测，可以缩短获取时间；因为闪烁体是***的，所以几乎没有光学的窜扰；同时闪烁体之间还有钨或其他***隔片，降低了X射线的窜扰。分立探测器的读出速度很快，在微秒量级。同时可以用输出脉冲来选通数据采集，限度减小信号上叠加的噪声。分立探测器对于辐射损伤也是不敏感的。
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