对比试样校准根据测量原理分类
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢﹨铁﹨银﹨镍.此种方法测量精度高
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种，河北标准试样/块校准，不属于无损检测，需要***涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。
5.射线测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，适用于一些特殊场合。国内目前使用较为普遍的是1﹨2两种方法。
对比试样校准对***有没有伤害?
如果是超声波测厚仪的话，从原理来说，超声波没有辐射，标准试样/块校准方案，它是一种振动机械波。但是人长期受到超声的影响，会引起******轻微的发热;当频率更高时，发热就会越发厉害，使***内水分子被烧，周围的***遭到***，长时间如此就有***。因此大功率高强度的超声波持续作用于***是***的。如果是源测厚仪，0.5米就很***了。而且值得一提的是，受辐射程度除和距离、受照射时间有关外，和源的密封情况也有关系，密封不好受辐射程度就严重一些。所以在使用测厚仪工作时，标准试样/块校准报价，要采取适当的保护措施防止电磁辐射的污染。
对比试样校准类型
1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，标准试样/块校准哪家好，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
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