探伤检测是指探测金属资料或部件外部的裂纹或缺点。
常用的探伤办法有：Xl光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗入渗出探伤（着色探伤）、涡流探伤、γ射线探伤、荧光探伤等办法。
X和γ射线的波是非，可以或许穿过必定厚度的物资，轨道无损探伤，而且在穿透的过程当中与物资中的原子产生相互作用。这类相互作用惹起辐射强度的衰减，衰减的水平又同受检资料的厚度、密度和化学身分无关。是以，当资料外部存在某种缺点而使其部分的有用厚度、密度和化学身分转变时，会在缺点处和四周地区之间惹起射线强度衰减的差别。假如用恰当介质将这类差别记载或表现进去，便可据以评估受检资料的外部品质。X射线查验和γ射线查验，根本道理和查验办法无原则差别，分歧的只是射线源的得到方法。X射线源是由各类X射线机、电子感到和直线组成的从低能(几千电子伏)到高能(几十兆电子伏)的系列，可以或许反省厚至600mm的钢材。γ射线是性同位素在衰变过程当中辐射进去的。
超声波探伤时影响缺陷***的主要因素
1.超声波探伤仪的影响：水平线性、水平刻度精度。
2.超声波探头：主声束偏向，探头波束双峰，斜探头斜楔磨损使K值变化，探头晶片发射、接收声波指向性。
3.被测工件影响：
a.表面粗糙：表面凹凸不平引起进入工件声束分叉l；
b.工件材质：材质晶粒引起林状反射，即材料噪声，试块与工件材质差异，引起声速变化，试块与工件应力差异，引起声速变化使K值变。压力应力声速增加，湖北无损探伤，拉应力声速减小每1kg/mm2引起0.01%；
c.工件表面形状：曲面工件探伤时探头平面时为点或线接触探头磨成曲面，钢轨无损探伤，使入射点改变，从而引起K值变化;
d.工件边界：靠工件边界探测时，由于侧壁干扰，使主声束偏向，改变K值;
e.工件温度：工件温度升高K值增大，工件温度下降K值变小;
f.工件中缺陷：缺陷反射指向性引起不在主声束入射缺陷时出现高反射，引起误判;
4.操作人员影响
a.调试超声波探伤仪扫描线比例不准。
b.测量超声波探头入射值，K值不准。
c.***方法不当：曲面工件未修正等。
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