西凡仪器（深圳） 有限公司成立于2006年，是一家集研发、生产和销售x射线荧光光谱仪的高新技术企业，主营产品包括ROHS检测仪、镀层测厚仪、硅油涂布量检测仪等众多无损检测仪器。
XRF-T6是西凡仪器结合ROHS检测标准及客户需求，推出的一款RoHS检测仪，该产品采用美国进口定制Si-PIN探测器，可准确检测Pb、Hg、Cd、Cr(VI)、CL、Br、PBB、PBDE等******物质，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
随着电子电气产品的大量增加，为控制电子电气废弃物对生态环境的污染，各国针对电子电气产品的安全和环保等特性建立的******及对应也日趋严格。
RoHS检测作为电子电气行业环保的步，已然成为电子电气产品进入市场基本的准入门槛。RoHS的全称是《关于限制在电子电气设备中使用某些***成分的指令》(Restriction of Hazardous Substances)，是欧盟议会和欧盟理事会于2003年1月通过的，也称2002/95/EC指令。
2015年6月4日，欧盟在其公报上发布指令(EU)2015/863对RoHS2.0附录II进行修订，将四项领苯二甲酸酯列入RoHS2.0中。至此，RoHS2.0附录II中的限制物质增加至十项，增加了四种邻苯增塑剂限制。
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X射线荧光光谱仪（XRF）具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。
X射线荧光光谱仪由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素都会出二次X射线，并且不同的元素所出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z? s)?2（K和S是常数）。根据理论，X射线可以看成由一种或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：E=hν=h C/λ（E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速）。因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
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X射线荧光光谱仪的物理原理：当材料暴露在短波长X咣检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，rohs检测仪价格，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质出的辐射，这是原子的能量特性。
X射线荧光光谱仪的使用型态：XRF用X咣或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会出特征X咣；不同的元素会出各自的特征x咣，rohs检测仪，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X咣，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法***、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。
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