ILT 5000 SED005WBS320W 紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统
紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统的研究
光学分析的10多个进制单位的动态范围
Pico-ammeter：10fA至1mA（从100fA至1mA校准）
无线通信：内置
用户控制或自动：范围、规零/暗零、采样率
4-20 mA输出
15针D Sub和***A输入端口
“Set it & Forget It”远程数据记录
电源：USB或内置充电电池组
多系统同时连续监测
包括DataLight II软件和Labview采样代码
NIST可追溯/ISO17025认证校准
采样率高达100 Hz，可编程
描述：
紫外敏感危害探测器设计为在250至400 nm的宽紫外波段上具有高灵敏度，用于紫外敏感危害研究
测量
测量范围：2.33e-8至2.33e+0 W/cm2
光谱范围：250–400 nm
配置：ILT5000*，SED005/WBS320/W（探头）
*包括软件
应用：该检测器经过特殊配置，可***测量穿过UV波段的宽波部分，用于总UV灵敏度***监测。
滤光片和输入光学元件是可拆卸的，可以与探测器组件分开购买，以允许滤光片和输入光学元件互换。
注：配置中不含图片中的平板电脑。