荧光光谱仪原理
荧光分析法的基本原理
处于基态的被测物质的分子在吸收适当能量，如光、化学、物理能后，其共价电子从成键分子轨道或非键分子轨道跃迁到反键分子轨道上去，形成分子激发态。分子激发态不稳定，将很快衰变到基态。在分子激发态返回到基态的同时常伴随着光子的辐射。这种现象就是发光现象。荧光则属于分子的光致发光现象。
x射线荧光光谱仪安全事项
在分析过程中，给管通电后，分析仪会发射定向辐射束。应尽合理的努力使线的暴露量保持在实际可行的剂量限度以下。这就是所谓的ALARA（合理可行）原则。三个因素将有助于地减少您的辐射暴露：时间，距离和屏蔽。尽管便携式x射线荧光光谱仪或手持式x射线荧光光谱仪元素分析仪发出的辐射与普通***X射线所接收的辐射相似，但必须注意始终将手持式x射线荧光光谱仪直接指向样品，Edinburgh荧光光谱仪公司，而切勿将其指向人身体的某一部分。
原子荧光光谱法
原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度，Edinburgh荧光光谱仪代理商，来确定待测元素含量的方法。气态自由原子吸收特征波长辐射后，原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10-8s，又跃迁至基态或低能级，同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射，称为原子荧光。原子荧光分为共振荧光、直跃荧光、阶跃荧光等。发射的荧光强度和原子化器中单位体积该元素基态原子数成正比，式中：I f为荧光强度；φ为荧光效率，邯郸Edinburgh荧光光谱仪，表示单位时间内发射荧光光子数与吸收激发光光子数的比值，一般小于1；Io为激发光强度；A为荧光照射在检测器上的有效面积；L为吸收光程长度；ε为峰值摩尔吸光系数；N为单位体积内的基态原子数。原子荧光发射中，由于部分能量转变成热能或其他形式能量，使荧光强度减少甚至消失，该现象称为荧光猝灭。
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