




光学膜厚测量仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
光学膜厚仪的应用
光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜,并且还有半导体液晶显示器等一系列的材料和产品的测量。一般的产品我们可以拿尺来进行测量,对精度要求也不高。但是对薄膜等产品来说,精度是关系到产品的组装和性能的,所以一定要测量。测量仪功能不能能够准确的进行测量,光学膜厚测量仪批发,还能及时的显示出数据。
其次可以计算薄膜厚度,一般采用光干涉法,薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、快速的光学薄膜厚度测量技术,我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
再次,就是操作方便,效率较高。这种优势对于薄膜测试的时候是非常重要的,毕竟薄膜测试是一种比较枯燥的工作,如果测试又比较繁杂的话,会使人心情焦躁,难免会影响测试时间和测试结果。
而操作方便,容易上手,几秒钟内即可完成测量和数据分析,发展潜力巨大。
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区分涂层测厚仪与超声波测厚仪的方法
涂层测厚仪分为磁性和涡流两种,也有磁性涡流二合一两用型的。常用于测量底材是金属的表面镀层的厚度,所以也叫做镀层测厚仪。
磁性测厚仪专测量磁性金属如钢铁上面镀层厚度(镀层除磁性金属,如钢铁、镍以外),非磁性的铜、铝、锡等上面的镀层就测不了。
涡流测厚仪专测量非磁性金属,比如铜、铝等上面的绝缘层厚度(涂层必须是非导电材料)。
超声波测厚仪是测量木材、塑胶、玻璃等非金属表面涂镀层厚度的测厚仪。价格相当昂贵。
所以有的在喷涂过程中测量用普通的涂层测厚仪可代替,具体测量方法如下:将普通涂层测厚仪膜片(校准片)与没进行过表面处理的产品放在一起,然后喷涂,结束后用仪器测量膜片厚度,从而得知产品涂层的厚度。
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区分涂层测厚仪与无损涂层测厚仪关键性在于哪些方面
涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别,重要如下所述。涂层测厚仪跟无损涂层测厚仪,都是用来丈量资料名义厚度的,深圳光学膜厚测量仪,然而涂层测厚仪与无损涂层测厚仪之间存在必定的差别。下面咱们详细来先容涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别。
涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别:
涂层测厚仪,重要用在名义处置行业,是用来丈量金属或塑胶名义的涂层厚度。
无损涂层测厚仪,分为磁性跟涡流两种,也有磁性涡流二合一两用型的。常用于丈量底材是金属的名义镀层的厚度,以是也叫做镀层测厚仪。
磁性测厚仪专丈量磁性金属如钢铁下面镀层厚度(镀层除磁性金属,如钢铁、镍以外),非磁性的铜、铝、锡等下面的镀层就测不了。涡流测厚仪专丈量非磁性金属,比方铜、铝等下面的绝缘层厚度(涂层必需长短导电资料)。
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