




膜厚测厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
膜厚测试仪
膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。
手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,半导体膜厚测厚仪,来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚测试仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。
欢迎咨询景颐光电了解更多膜厚测厚仪
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涂层测厚仪的测量方法
涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
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膜厚检测仪的使用方法:
测定准备
(1)确保电池正负极方向正确无误后设定。
(2)探头的选择和设定:在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象,非接触式膜厚测厚仪,在本体上进行设定。
测定方法
(1)探头的选择和安装方法:确认电源处于OFF状态,与测定对象的质地材质接触,安装LEP-J或LHP-J。
(2)调整:确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。
(3)测定:在探头的末端加一定的负荷,光谱膜厚测厚仪,即使用[一点接触定压式]。抓住与测定部接近的部分,迅速在与测定面成垂直的角度按下。
下述的测定,亳州膜厚测厚仪,每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时,如果采用探头适配器,可以更加稳定地进行测定。
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