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涂层测厚仪的测量方法

涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。

涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

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膜厚测量仪测量的基本原理

在膜厚测量仪中，比较流行的测量原理就是电涡流测量原理，我们一起来对电涡流测量原理进行比较详尽的学习，半导体膜厚仪哪家好，高频的交流信号一般会在侧头线圈中产生一定的电磁场，当测试的探头靠近导体的时候，就会在它的附加产生涡流。

如果测试探头离导体的基体越近，它的涡流就会越大，反射阻抗肯定也会更大。事实上，这是一个反馈作用的过程，这个过程中表征了测试探头与导电基体之间距离的大小，换句话说，这就是导体导电基体上非导电覆层厚度的大小。

采用电涡流测试的原理，原则上需要对导体上的非导电体覆盖层均可以进行测量，技术人员告诉我们，覆层材料是有一定的导电性的，通过校准也是可以同时进行测量的，不过在这其中，半导体膜厚仪价格，有一个比较明显的要求就是两个的导电率是相差3到5倍左右。

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膜厚测试仪

膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，黄冈半导体膜厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。

手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，半导体膜厚仪价位，来表示其覆层厚度。

台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

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