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荧光膜厚仪介绍

 X射线荧光(XRF)测厚仪，简称荧光测厚仪、荧光膜厚仪，是在很多领域被广泛应用的高精度仪器，那么什么是XRF呢? XRF，X射线荧光光谱分析法(X Ray Fluorescence)，利用初级X射线光子或其他微观察离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光而进行物质成分分析和化学态研究的方法。荧光膜厚仪又是什么呢？

荧光膜厚仪俗称X射线荧光测厚仪、荧光测厚仪、荧光膜厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。比如金属镀层检测，PCB线路板镀层分析等。

  荧光膜厚仪原理是将X射线照射在样品上，分光膜厚测厚仪哪家好，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，沧州膜厚测厚仪哪家好，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

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光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点

随着科技社会发展，光学的应用也越来越广泛，膜厚测厚仪行业发展也越来越好。其中就有大众所知的光学膜厚测量仪。它利用光学的特点，能够直接检测出物体透明或者半透明涂层的厚度。

光学膜厚测量仪所利用的工作原理，便是光的折射与反射。接下来详细说说光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点。

这种仪器在测量时，摆放在被测件的上方，从仪器的测头部分发射出垂直向下的可视光线。其中一部分光会在膜的表面形成反射，另一部分则会透过被测试的薄膜，在薄膜与衬底之间的界面形成反射，薄膜表面以及薄膜的底部同时反射的光会造成干涉的现象。仪器便是利用了这一现象，反射式膜厚测厚仪哪家好，从而测量出薄膜的厚度。

厚度的测量看似简单，实测上所利用的光反射原理，却是需要经过一系列的设计才能达到如此理想状态。如此光学膜厚测量仪的使用，便也有着其它传统测厚仪所没有的优点。

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区分涂层测厚仪与超声波测厚仪的方法

涂层测厚仪分为磁性和涡流两种，也有磁性涡流二合一两用型的。常用于测量底材是金属的表面镀层的厚度，所以也叫做镀层测厚仪。

磁性测厚仪专测量磁性金属如钢铁上面镀层厚度（镀层除磁性金属，如钢铁、镍以外），非磁性的铜、铝、锡等上面的镀层就测不了。

涡流测厚仪专测量非磁性金属，比如铜、铝等上面的绝缘层厚度（涂层必须是非导电材料）。

超声波测厚仪是测量木材、塑胶、玻璃等非金属表面涂镀层厚度的测厚仪。价格相当昂贵。

所以有的在喷涂过程中测量用普通的涂层测厚仪可代替，具体测量方法如下：将普通涂层测厚仪膜片（校准片）与没进行过表面处理的产品放在一起，非接触膜厚测厚仪哪家好，然后喷涂，结束后用仪器测量膜片厚度，从而得知产品涂层的厚度。

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