宁波半导体膜厚仪-景颐光电喜迎客户-半导体膜厚仪价位

半导体膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

光谱膜厚测厚仪概念及性能优势

光谱膜厚测厚仪，半导体膜厚仪价位，采用下照式C型腔体设计，宁波半导体膜厚仪，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价高、适用性强的机型。该系列仪器适用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。

光谱膜厚测厚仪概念

凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。

可以对各种板材和加工零件作准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。

广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

欢迎咨询景颐光电了解更多半导体膜厚仪

半导体膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

影响涂层膜厚仪测量精度的因素及注意事项

涂层膜厚仪如今已经应用到各行各业当中，但是很多的用户在使用涂层膜厚仪时，并没有按照相应的规范进行操作，这样就会导致测量结果的不准确性。本文简单的介绍了涂层膜厚仪的工作原理。

1.磁性测厚原理：当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

2.涡流测厚原理：利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，半导体膜厚仪价格，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

欢迎咨询景颐光电了解更多半导体膜厚仪

半导体膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

关于膜厚测量仪的介绍

景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理，机械结构集成的进口卤钨灯光源，使用寿命超过20000小时，紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。

通过内嵌式微处理器控制，小型光谱仪，光谱范围200NM -250ONM（波长范围根据配置选择)，分辨精度可达3648像素，16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。

可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。

OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，包含了类型丰富的材料折射率数据库，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。

欢迎咨询景颐光电了解更多半导体膜厚仪