半导体膜厚检测仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
光学膜厚测量仪
光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品表面时，薄膜表面的反射光来测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。由于光学测量膜厚方法准确、无***，且光谱反射法比椭偏仪操作简单、测试速度快，适合测量具有结构的薄膜。
设备性能指标：
1、测量薄膜厚度范围：4nm～30um（使用10x、15x物镜，样品折射率为1.5左右时，亳州半导体膜厚检测仪，4nm～2um（使用40x物镜）；
2、测试面积：光栏尺寸（250um）/物镜倍率；
3、该设备显微镜物镜：5x、10x、15x、40x。其中5x物镜用于寻找测试区域，10x和15x物镜用于测试薄膜厚度；
4、40x物镜用于测试厚度低于2um的薄膜厚度；
5、测试精度：测试膜层总厚度的0.2%或2nm中的较大者；
6、光源：灯、钨灯；
7、测试波长范围：190nm～1100nm；
8、大测试样品尺寸：8寸。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素
附着物质
仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，半导体膜厚检测仪厂家，以保证探头与覆盖层表面直接接触。
探头压力
探头置于试件上施加的压力大小会影响测量的读数。因此本仪器探头用弹簧保持一个基本恒定的压力。
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测厚仪膜厚仪怎么用？
虽然不同漆膜测厚仪测量的原理不同，不过基本操作区别并不大，用户可以按照以下方式，快速的检测钢铁板材涂层的厚度或者铝质板材涂层的厚度。
1、开机
手指按测厚仪上的开关键，就可以进行开机。开机时带背光显示屏会有显示，并且蜂鸣器也会进行提示，若仪器电量不足，就会发出低电量报警。
2、校准
可采用单点校准和多点校准两种方法对仪器进行校准。
3、测量
仪器校准完成后，半导体膜厚检测仪价位，就可以开始测量了，按测量键就可以一键测试。有多种测量模式可供选择，包括单点测量、连续测量等等，用户可以自行选择测量模式。
单次测量——侧头没接触被测件一次，随着一声鸣响，半导体膜厚检测仪批发，显示一个测量结果；
连续测量——不提起侧头动态测量，测量过程中不伴鸣响，屏幕连续显示测量结果。
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