激光膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
影响涂层膜厚仪测量精度的因素
1.基体金属磁性
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，激光膜厚仪价格，应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。
2.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
3.边缘效应
本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
4.曲率
试件的曲率对测量有影响，这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
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涂层膜厚仪维护及注意事项：
1.应避免仪器及测头受到强烈震动；
2.避免仪器置于过于潮湿的环境中；
3.插拔测头时，应捏住活动外套沿轴线用力，不可旋转测头，以避免损坏测头电缆芯线。
4.在涂层膜厚仪插拔探头的时候，要先将测厚仪的主机电源关闭后再进行插拔。不然就会很容易造成探头里面的集成块烧掉。
5.油、灰尘的附着会使测头线逐渐老化、断裂，使用后应清除缆线上的污垢。
6.当仪器出现非正常现象时，请不要拆卸或调节任何固定装配的零件，请交给厂家维修部门检测、维修。
7.不要使用劣质的电池，以免造成漏液，导致主机主板腐蚀。
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膜厚测试仪
膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。
手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚测试仪，光谱激光膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，镇江激光膜厚仪，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。
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