合肥膜厚测厚仪-景颐光电省事可靠-反射膜厚测厚仪

膜厚测厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

非接触式测厚仪

非接触式测厚仪顾名思义就是测量仪器与被测物体非接触测量，反射膜厚测厚仪，能够很好的保护所测物体。在工业生产中多用来连续测量产品的厚度（如钢板、钢带、纸张、涂层、板材、薄膜、片材等）。

非接触式测厚仪有激光膜厚仪、电涡流测厚仪，根据应用不同，又可分为薄膜测厚仪，镀层测厚仪和板材测厚仪

激光在线测厚仪是新一代研制的在线、非接触式的测厚仪。它集激光光源，光电检测和计算机工业控制技术三者于一身，是我国工业生产线产品质量控制的重要设备。

主要技术特点：

非接触式、在线测量

采样速度快（8000个/秒）、精度高，且性能稳定，操作简单

厚度范围0～500mm（或可按要求设定范围）

精度可达1um。

欢迎咨询景颐光电了解更多膜厚测厚仪

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影响涂层膜厚仪测量精度的因素及注意事项

涂层膜厚仪如今已经应用到各行各业当中，但是很多的用户在使用涂层膜厚仪时，并没有按照相应的规范进行操作，这样就会导致测量结果的不准确性。本文简单的介绍了涂层膜厚仪的工作原理。

1.磁性测厚原理：当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，膜厚测厚仪价位，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

2.涡流测厚原理：利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场，合肥膜厚测厚仪，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

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关于膜厚测量仪的介绍

景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理，机械结构集成的进口卤钨灯光源，使用寿命超过20000小时，紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。

通过内嵌式微处理器控制，小型光谱仪，光谱范围200NM -250ONM（波长范围根据配置选择)，分辨精度可达3648像素，光学膜厚测厚仪，16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。

可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。

OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，包含了类型丰富的材料折射率数据库，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。

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