光学膜厚测试仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
膜厚仪根据测量原理一般有以下五种类型：
（1）磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢﹨铁﹨银﹨镍。此种方法测量精度高，光学膜厚测试仪哪家好，膜厚仪均为磁性膜厚仪。
（2）涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低
（3）超声波测厚法：目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。
（4）电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要***涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦
（5）测厚法：此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，宣城光学膜厚测试仪，适用于一些特殊场合。
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半导体膜厚测试仪
X射线发生系统采用了聚光导管
由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测量及***物质测量的精度。
无需液氮的半导体检测器
在进行薄膜测量与***物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是的，不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。
能谱匹配软件
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。
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关于膜厚测量仪的介绍
景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理，机械结构集成的进口卤钨灯光源，使用寿命超过20000小时，光学膜厚测试仪批发，紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。
通过内嵌式微处理器控制，小型光谱仪，光谱范围200NM -250ONM（波长范围根据配置选择)，分辨精度可达3648像素，16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。
可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。
OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，包含了类型丰富的材料折射率数据库，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。
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