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膜厚检测仪的使用方法：

测定准备

（1）确保电池正负极方向正确无误后设定。

（2）探头的选择和设定：在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象，在本体上进行设定。

测定方法

（1）探头的选择和安装方法：确认电源处于OFF状态，与测定对象的质地材质接触，安装LEP-J或LHP-J。

（2）调整：确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。

（3）测定：在探头的末端加一定的负荷，即使用[一点接触定压式]。抓住与测定部接近的部分，国产石英晶体膜厚仪，迅速在与测定面成垂直的角度按下。

下述的测定，每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时，如果采用探头适配器，可以更加稳定地进行测定。

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影响涂层膜厚仪测量精度的因素

附着物质

仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。

探头压力

探头置于试件上施加的压力大小会影响测量的读数。因此本仪器探头用弹簧保持一个基本恒定的压力。

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涂层膜厚仪标准片选择与使用

使用可靠的参考标准块校准仪器。测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。

参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%。

只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，石英晶体膜厚仪批发，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，反射石英晶体膜厚仪，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。

金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，盐城石英晶体膜厚仪，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。

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