




反射式膜厚测量仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
影响涂层膜厚仪测量精度的因素及注意事项
涂层膜厚仪如今已经应用到各行各业当中,但是很多的用户在使用涂层膜厚仪时,并没有按照相应的规范进行操作,反射式膜厚测量仪批发,这样就会导致测量结果的不准确性。本文简单的介绍了涂层膜厚仪的工作原理。
1.磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。
2.涡流测厚原理:利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
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膜厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:
(1)磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢﹨铁﹨银﹨镍。此种方法测量精度高,膜厚仪均为磁性膜厚仪。
(2)涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低
(3)超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。
(4)电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要***涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦
(5)测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。
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膜厚测量仪测量的基本原理
在膜厚测量仪中,比较流行的测量原理就是电涡流测量原理,我们一起来对电涡流测量原理进行比较详尽的学习,高频的交流信号一般会在侧头线圈中产生一定的电磁场,当测试的探头靠近导体的时候,反射式膜厚测量仪哪家好,就会在它的附加产生涡流。
如果测试探头离导体的基体越近,它的涡流就会越大,反射阻抗肯定也会更大。事实上,这是一个反馈作用的过程,梅州反射式膜厚测量仪,这个过程中表征了测试探头与导电基体之间距离的大小,换句话说,这就是导体导电基体上非导电覆层厚度的大小。
采用电涡流测试的原理,原则上需要对导体上的非导电体覆盖层均可以进行测量,技术人员告诉我们,覆层材料是有一定的导电性的,通过校准也是可以同时进行测量的,不过在这其中,有一个比较明显的要求就是两个的导电率是相差3到5倍左右。
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