光学膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点
随着科技社会发展，光学的应用也越来越广泛，膜厚测厚仪行业发展也越来越好。
它能够避免前期的样品处理，光学膜厚仪价位，甚至不需要样品来进行试样工作。
传统的测厚仪，在测量物件时，需要进行样品的预处理，使样品与被测量物件一致，在测量时直接应用于样品测量。而光学测厚仪是直接应用于被测量物体。这样的一个过程便为我们节省了不少的工作以及资源。
利用光学膜厚测量仪，浙江光学膜厚仪，它可以避免了被测量物件的损坏。之所以普通传统的测厚仪需要用到样品来进行试测，就是因为在测量时，会对物体造成一定程度的表面损坏，为了避免物件的损坏，才会需要应用样品。而光学的测厚仪，虽然直接应用于物件表面，但其它出来的光却是一样没有实质的事物，在测量的时候并不会对物件造成什么样的损伤。
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膜厚仪测量校正步骤为了是测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。
1、校准标准片
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
2、基体
标准基体金属的磁性和表面粗糙度，半导体光学膜厚仪，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性，光谱光学膜厚仪，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。
零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准；
多点校准：使用标准片来进行校准，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
对仪器进行零点校准和多点校准后，就可以直接测量路灯涂层厚度，测量厚度值结果将会在膜厚仪的显示屏上呈现。
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光学膜厚仪的应用
光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜，并且还有半导体液晶显示器等一系列的材料和产品的测量。一般的产品我们可以拿尺来进行测量，对精度要求也不高。但是对薄膜等产品来说，精度是关系到产品的组装和性能的，所以一定要测量。测量仪功能不能能够准确的进行测量，还能及时的显示出数据。
其次可以计算薄膜厚度，一般采用光干涉法，薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
再次，就是操作方便，效率较高。这种优势对于薄膜测试的时候是非常重要的，毕竟薄膜测试是一种比较枯燥的工作，如果测试又比较繁杂的话，会使人心情焦躁，难免会影响测试时间和测试结果。
而操作方便，容易上手，几秒钟内即可完成测量和数据分析，发展潜力巨大。
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