光学膜厚检测仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
光学膜厚仪的应用
光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜，并且还有半导体液晶显示器等一系列的材料和产品的测量。一般的产品我们可以拿尺来进行测量，对精度要求也不高。但是对薄膜等产品来说，十堰光学膜厚检测仪，精度是关系到产品的组装和性能的，所以一定要测量。测量仪功能不能能够准确的进行测量，还能及时的显示出数据。
其次可以计算薄膜厚度，一般采用光干涉法，薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
再次，就是操作方便，效率较高。这种优势对于薄膜测试的时候是非常重要的，毕竟薄膜测试是一种比较枯燥的工作，如果测试又比较繁杂的话，会使人心情焦躁，难免会影响测试时间和测试结果。
而操作方便，容易上手，几秒钟内即可完成测量和数据分析，发展潜力巨大。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素
表面粗糙度
基体金属何覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差何偶然误差。
每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层，再校对仪器的零点。
磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测量厚度的工作。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素及注意事项
涂层膜厚仪如今已经应用到各行各业当中，光学膜厚检测仪哪家好，但是很多的用户在使用涂层膜厚仪时，并没有按照相应的规范进行操作，这样就会导致测量结果的不准确性。本文简单的介绍了涂层膜厚仪的工作原理。
1.磁性测厚原理：当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。
2.涡流测厚原理：利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场，光学膜厚检测仪批发，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
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