反射膜厚仪厂家-马鞍山反射膜厚仪-景颐光电喜迎客户

反射膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

反射式膜厚测试仪

反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜，马鞍山反射膜厚仪，手机触摸屏ITO等镀膜厚度，PET柔性涂布的胶厚等厚度，LED镀膜厚度，建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。SR可用于测量2纳米到3000微米的膜厚，测量精度达到0.1纳米。 在折射率未知的情况下，还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。

此外，还可用于测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内。进行测量简单可靠，实际测量采样时间低于1秒。

同时，客户还可以通过软件自带数据库对材料，菜单进行管理并回溯检查测量结果。目标应用：半导体镀膜，光刻胶玻璃减反膜测量蓝宝石镀膜，光刻胶ITO 玻璃太阳能镀膜玻璃各种衬底上的各种膜厚，颜色测量卷对卷柔性涂布光学膜其他需要测量膜厚的场合

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涂层膜厚仪常见问题及注意事项

校准后仪器依旧出现偏差

这样的问题也是比较常见的。一般来说用户都是使用测厚仪随机校准基体进行校准，这样就要求用户自己的产品的基体与随机基体的材料完全相同，这种情况基本上不可能的。所以，客户应用选择与待测样品基体一致的材料（没有涂层或镀层）上进行零点校准，再在上面用校正块、塑料薄膜进行校准，这次测量数据才能准确。

在检定涂层膜厚仪的时候，检定员都有一套准确的校准片来检定仪器，反射膜厚仪批发，涂层膜厚仪检定合格后，但是很多用户在检定时都没有送检以前使用的校准片（一般是塑料薄片），我们在实际使用过程中只有使用准确的校准片，这样一来做校准才有意义，因为校准片是塑料片，难免磨损，建议2年左右换一片通过***检定的标准片。

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荧光膜厚仪介绍

 X射线荧光(XRF)测厚仪，简称荧光测厚仪、荧光膜厚仪，是在很多领域被广泛应用的高精度仪器，那么什么是XRF呢? XRF，X射线荧光光谱分析法(X Ray Fluorescence)，利用初级X射线光子或其他微观察离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光而进行物质成分分析和化学态研究的方法。荧光膜厚仪又是什么呢？

荧光膜厚仪俗称X射线荧光测厚仪、荧光测厚仪、荧光膜厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。比如金属镀层检测，PCB线路板镀层分析等。

  荧光膜厚仪原理是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

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