保定石英晶体膜厚仪-景颐光电省事可靠-光谱石英晶体膜厚仪

石英晶体膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

涂层膜厚仪校验方法

涂层膜厚仪常用的校验方法就是零点校准以及多点校准。

1.零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准。

（1）选定一块调零板，非接触式石英晶体膜厚仪，调零板就是无涂层的金属底材。（由于工件表面粗糙度不同，调零后，再测不一定是的零位，这属于正常现象。）

（2）在一起的侧单界面，选择校准，然后零位校准，然后将探头垂直并平稳地紧压在基体上，一起会自动进行零位校准。

（3）重复上述的1、2步骤，就可以可以获得更加的零点，提高测量精度。

2.多点校准：使用标准片来进行校准，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。

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光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜产品的测量

光学膜厚仪的薄膜光谱反射系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度及nk，采用r-θ极坐标移动平台，可以在几秒钟的时间内快速的***所需测试的点并测试厚度，可随意选择一种或极坐标形、或方形、或线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。

针对不同的晶圆尺寸，盒对盒系统可以很容易的自动转换，匹配当前盒子的尺寸。

用激光粒度分布仪测试胶体的粒度分布时应配合其它检测手段验证测试结果的准确性，同时应使用去离子水作为分散介质，防止自来水中的电解质造成颗粒团聚影响测试结果。

适用于已知折射率的单一物质粒度分布测试，石英晶体膜厚仪厂家，因此测试前要知道被测样品的折射率，折射率选取的不同会对测试结果造成一定的影响。

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关于膜厚测量仪的介绍

景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理，机械结构集成的进口卤钨灯光源，使用寿命超过20000小时，紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。

通过内嵌式微处理器控制，小型光谱仪，光谱范围200NM -250ONM（波长范围根据配置选择)，分辨精度可达3648像素，16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。

可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。

OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，保定石英晶体膜厚仪，包含了类型丰富的材料折射率数据库，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。

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