膜厚检测仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
膜厚测试仪的基本工作原理
膜厚仪又叫膜厚测试仪，符合了（GB/T 4957-2003）中的涡流法以及（GB/T 4956-2003）中的磁性法等相关标准。
其中涡流测厚的原理，是利用高频交变电流在线圈中产生的电磁场，当测头和覆盖层接触时，金属基体上就会产生电涡流。并且会对测头中的线圈产生了反馈的作用，然后通过测量反馈作用的大小来导出覆盖层的厚度。
涡流测厚原理的膜厚仪，适用于非磁性金属基体上（铜、铝、黄铜等）非导电涂层的测量（如涂料、阳极氧化层等）。如航天航空器表面、车辆等及其它铝制品表面的油漆，膜厚检测仪价位，阳极氧化膜等。
而磁性测厚的原理，是当测头和覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成的一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，会使磁路磁阻发生变化，根据变化就可以测出涂层的厚度。
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膜厚仪测量校正步骤为了是测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。
1、校准标准片
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
2、基体
标准基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性，膜厚检测仪哪家好，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。
零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准；
多点校准：使用标准片来进行校准，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
对仪器进行零点校准和多点校准后，膜厚检测仪价格，就可以直接测量路灯涂层厚度，日照膜厚检测仪，测量厚度值结果将会在膜厚仪的显示屏上呈现。
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光谱膜厚测量仪常用类型及准确操作的小技巧
基体金属特性对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，无损检测 如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。不应在试件的弯曲表面上测量。
通常由于光谱膜厚测量仪的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
测量前，应表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
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