




涂层膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
非接触式测厚仪
非接触式测厚仪顾名思义就是测量仪器与被测物体非接触测量,非接触涂层膜厚仪,能够很好的保护所测物体。在工业生产中多用来连续测量产品的厚度(如钢板、钢带、纸张、涂层、板材、薄膜、片材等)。
非接触式测厚仪有激光膜厚仪、电涡流测厚仪,根据应用不同,涂层膜厚仪价位,又可分为薄膜测厚仪,镀层测厚仪和板材测厚仪
激光在线测厚仪是新一代研制的在线、非接触式的测厚仪。它集激光光源,光电检测和计算机工业控制技术三者于一身,是我国工业生产线产品质量控制的重要设备。
主要技术特点:
非接触式、在线测量
采样速度快(8000个/秒)、精度高,且性能稳定,操作简单
厚度范围0~500mm(或可按要求设定范围)
精度可达1um。
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涂层膜厚仪工作原理及校验方法
感应加热系统为了产生所需要的加热速度,工作在高功率计。相反,涡流检查为了减小热损失和温度变化,通常工作在很低的功率级。此外在涡流设备中,由于被检查零件中的一些变化(如由于出现缺陷或尺寸改变所引起的变化)所引起的电负载改变,可通过电子电路来监视。
无论在涡流检测还是在感应加热中,工作频率的选择主要由“趋肤效应”决定。这种效应使涡流向接近带电感应线圈的零件表面集中。集肤效应随频率的增加而更加明显。
使用涡流法测厚时,利用高频交电流在探头线圈中产生一个电磁场,当探头靠近导电基体时,在导电基体中形成涡流,探头与导电基体之间有非导电覆盖层阻隔,覆盖层越薄,导电基体中形成的涡流越大,对探头线圈产生反馈作用越大(反射阻抗越大),这个反馈作用量表征了探头与导电基体之间距离的大小,通过测量反馈作用的大小可测量出导电基体上非导电覆盖层的厚度大小。
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关于膜厚测量仪的介绍
景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理,机械结构集成的进口卤钨灯光源,使用寿命超过20000小时,紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。
通过内嵌式微处理器控制,小型光谱仪,光谱范围200NM -250ONM(波长范围根据配置选择),江苏涂层膜厚仪,分辨精度可达3648像素,16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量,可测量反射率、颜色、膜厚等参数。
可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量,在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。
OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法,包含了类型丰富的材料折射率数据库,开放式材料数据库,有效地协助用户进行测试分析,测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。
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