半导体膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
膜厚仪原理是什么？
在铁基或铝基材料表面涂镀膜是一种重要的表面加工技术，膜的厚度直接影响其性能，故需对其进行有效的测量。常用的方法就是使用膜厚仪直接进行无损测试，本文就给大家带来膜厚仪使用方法。
膜厚测量方法有哪些？
膜厚测试仪，用于测量铝型材表面氧化膜或绝缘涂层厚度。这种膜厚仪轻便，操作简单，性能稳定，适用于铝型材膜厚现场检测，精度±3%。
膜厚传感器于金属板带表面漆膜厚度连续检测。测量系统根据涂层的红外能量吸收原理和漆膜下的金属表面反射回的能量来测出膜厚。可测量铝容器，咸宁半导体膜厚仪，密封盖，饮料罐的涂层厚度，测量误差小于50mg/平方米。工厂预先校准功能可使测量系统方便而迅速地投入使用。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素
1.基体金属磁性
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。
2.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
3.边缘效应
本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
4.曲率
试件的曲率对测量有影响，这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
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涂层膜厚仪校验方法
涂层膜厚仪常用的校验方法就是零点校准以及多点校准。
1.零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准。
（1）选定一块调零板，调零板就是无涂层的金属底材。（由于工件表面粗糙度不同，半导体膜厚仪批发，调零后，再测不一定是的零位，半导体膜厚仪价位，这属于正常现象。）
（2）在一起的侧单界面，选择校准，然后零位校准，然后将探头垂直并平稳地紧压在基体上，一起会自动进行零位校准。
（3）重复上述的1、2步骤，半导体膜厚仪厂家，就可以可以获得更加的零点，提高测量精度。
2.多点校准：使用标准片来进行校准，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
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