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半导体膜厚测试仪
能谱匹配软件
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。
块体检量线软件(适用于电镀液分析)
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。
绘图软件(选配件)
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。
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涂层膜厚仪常见问题及注意事项
校准后仪器依旧出现偏差
这样的问题也是比较常见的。一般来说用户都是使用测厚仪随机校准基体进行校准,这样就要求用户自己的产品的基体与随机基体的材料完全相同,这种情况基本上不可能的。所以,国产膜厚检测仪厂家,客户应用选择与待测样品基体一致的材料(没有涂层或镀层)上进行零点校准,国产膜厚检测仪价格,再在上面用校正块、塑料薄膜进行校准,这次测量数据才能准确。
在检定涂层膜厚仪的时候,检定员都有一套准确的校准片来检定仪器,涂层膜厚仪检定合格后,但是很多用户在检定时都没有送检以前使用的校准片(一般是塑料薄片),我们在实际使用过程中只有使用准确的校准片,这样一来做校准才有意义,国产膜厚检测仪价位,因为校准片是塑料片,难免磨损,建议2年左右换一片通过***检定的标准片。
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测厚仪膜厚仪检测镀层厚度的原理
磁性测厚法是利用被测试样与标准磁体之间的吸引力的变化来转换成镀层的厚度。这种方法只能适用于对磁性能敏感的基体上的非磁性镀层,孝感国产膜厚检测仪,如钢铁基体上的铜、锌、锡等镀层。钢件上的镍镀层就不能很好地测量出结果。
磁性测厚法的优点是对钢铁基体上的非磁性镀层提供了一种快速的测量方法,其准确度可达85%-90%。测量样件的粗糙度对测量结果有影响。
如果被测件的基体很薄时,比如样片厚度低于0.25mm时,会有较大测量误差,这时可以在样片后另加一个与基体材料相同的厚一些的无镀层材料来减少误差。
磁性法的缺点是受磁性能要求的限制,所以适应于该方法的基体材料和镀层有限。
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