半导体膜厚仪批发-景颐光电质量可靠-三门峡半导体膜厚仪

半导体膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

光谱膜厚测厚仪概念及性能优势

光谱膜厚测厚仪，半导体膜厚仪批发，采用下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，三门峡半导体膜厚仪，是一款测量涂镀层成分及厚度性价高、适用性强的机型。该系列仪器适用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。

光谱膜厚测厚仪概念

凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。

可以对各种板材和加工零件作准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，半导体膜厚仪厂家，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。

广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

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半导体膜厚测试仪

X射线发生系统采用了聚光导管

由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测量及***物质测量的精度。

无需液氮的半导体检测器

在进行薄膜测量与***物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是的，不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。

能谱匹配软件

可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。

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关于膜厚测量仪的介绍

景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理，机械结构集成的进口卤钨灯光源，使用寿命超过20000小时，紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。

通过内嵌式微处理器控制，小型光谱仪，光谱范围200NM -250ONM（波长范围根据配置选择)，分辨精度可达3648像素，16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。

可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，半导体膜厚仪价格，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。

OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，包含了类型丰富的材料折射率数据库，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。

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