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国产膜厚检测仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

膜厚仪测量校正步骤为了是测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。

1、校准标准片

已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。

2、基体

标准基体金属的磁性和表面粗糙度，国产膜厚检测仪厂家，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。

零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准；

多点校准：使用标准片来进行校准，国产膜厚检测仪批发，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。

对仪器进行零点校准和多点校准后，就可以直接测量路灯涂层厚度，测量厚度值结果将会在膜厚仪的显示屏上呈现。

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光谱膜厚测量仪使用的注意事项

1.使用膜厚仪时，注意用手指握住凹槽部分。

2.用手指握住凹槽部分以后将探头垂直按压在被测物体表面，不要倾斜或者晃动。

3.测量时，不要选择边缘的区域。

4.工件表面粗糙度过大，附着物太多，不利于探头直接接触到被测物体表面，也会影响测量。因此测量之前，需要将被测物表面的附着物清理干净。

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光学膜厚仪的应用

光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜，并且还有半导体液晶显示器等一系列的材料和产品的测量。一般的产品我们可以拿尺来进行测量，对精度要求也不高。但是对薄膜等产品来说，镇江国产膜厚检测仪，精度是关系到产品的组装和性能的，所以一定要测量。测量仪功能不能能够准确的进行测量，还能及时的显示出数据。

其次可以计算薄膜厚度，一般采用光干涉法，国产膜厚检测仪价格，薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。

再次，就是操作方便，效率较高。这种优势对于薄膜测试的时候是非常重要的，毕竟薄膜测试是一种比较枯燥的工作，如果测试又比较繁杂的话，会使人心情焦躁，难免会影响测试时间和测试结果。

而操作方便，容易上手，几秒钟内即可完成测量和数据分析，发展潜力巨大。

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