光学膜厚测试仪价位-景颐光电喜迎客户-济宁光学膜厚测试仪

光学膜厚测试仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

影响涂层膜厚仪测量精度的因素及注意事项

涂层膜厚仪如今已经应用到各行各业当中，但是很多的用户在使用涂层膜厚仪时，并没有按照相应的规范进行操作，这样就会导致测量结果的不准确性。本文简单的介绍了涂层膜厚仪的工作原理。

1.磁性测厚原理：当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

2.涡流测厚原理：利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

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涂层膜厚仪校验方法

涂层膜厚仪常用的校验方法就是零点校准以及多点校准。

1.零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准。

（1）选定一块调零板，光学膜厚测试仪价位，调零板就是无涂层的金属底材。（由于工件表面粗糙度不同，调零后，再测不一定是的零位，这属于正常现象。）

（2）在一起的侧单界面，选择校准，然后零位校准，然后将探头垂直并平稳地紧压在基体上，光学膜厚测试仪厂家，一起会自动进行零位校准。

（3）重复上述的1、2步骤，就可以可以获得更加的零点，光学膜厚测试仪哪家好，提高测量精度。

2.多点校准：使用标准片来进行校准，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。

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光学膜厚测量仪

光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品表面时，济宁光学膜厚测试仪，薄膜表面的反射光来测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。由于光学测量膜厚方法准确、无***，且光谱反射法比椭偏仪操作简单、测试速度快，适合测量具有结构的薄膜。

设备性能指标：

1、测量薄膜厚度范围：4nm～30um（使用10x、15x物镜，样品折射率为1.5左右时，4nm～2um（使用40x物镜）；

2、测试面积：光栏尺寸（250um）/物镜倍率；

3、该设备显微镜物镜：5x、10x、15x、40x。其中5x物镜用于寻找测试区域，10x和15x物镜用于测试薄膜厚度；

4、40x物镜用于测试厚度低于2um的薄膜厚度；

5、测试精度：测试膜层总厚度的0.2%或2nm中的较大者；

6、光源：灯、钨灯；

7、测试波长范围：190nm～1100nm；

8、大测试样品尺寸：8寸。

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