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反射膜厚测试仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

反射式膜厚测试仪

反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜，手机触摸屏ITO等镀膜厚度，PET柔性涂布的胶厚等厚度，LED镀膜厚度，建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。SR可用于测量2纳米到3000微米的膜厚，测量精度达到0.1纳米。 在折射率未知的情况下，还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。

此外，还可用于测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内。进行测量简单可靠，实际测量采样时间低于1秒。

同时，客户还可以通过软件自带数据库对材料，菜单进行管理并回溯检查测量结果。目标应用：半导体镀膜，镇江反射膜厚测试仪，光刻胶玻璃减反膜测量蓝宝石镀膜，光刻胶ITO 玻璃太阳能镀膜玻璃各种衬底上的各种膜厚，颜色测量卷对卷柔性涂布光学膜其他需要测量膜厚的场合

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影响涂层膜厚仪测量精度的因素及注意事项

涂层膜厚仪如今已经应用到各行各业当中，但是很多的用户在使用涂层膜厚仪时，并没有按照相应的规范进行操作，反射膜厚测试仪厂家，这样就会导致测量结果的不准确性。本文简单的介绍了涂层膜厚仪的工作原理。

1.磁性测厚原理：当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，反射膜厚测试仪哪家好，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

2.涡流测厚原理：利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

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光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点

随着科技社会发展，光学的应用也越来越广泛，膜厚测厚仪行业发展也越来越好。其中就有大众所知的光学膜厚测量仪。它利用光学的特点，能够直接检测出物体透明或者半透明涂层的厚度。

光学膜厚测量仪所利用的工作原理，便是光的折射与反射。接下来详细说说光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点。

这种仪器在测量时，摆放在被测件的上方，从仪器的测头部分发射出垂直向下的可视光线。其中一部分光会在膜的表面形成反射，另一部分则会透过被测试的薄膜，在薄膜与衬底之间的界面形成反射，薄膜表面以及薄膜的底部同时反射的光会造成干涉的现象。仪器便是利用了这一现象，从而测量出薄膜的厚度。

厚度的测量看似简单，反射膜厚测试仪价格，实测上所利用的光反射原理，却是需要经过一系列的设计才能达到如此理想状态。如此光学膜厚测量仪的使用，便也有着其它传统测厚仪所没有的优点。

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