




膜厚测试仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
涂层膜厚仪工作原理及校验方法
涂层膜厚仪作为检测涂层厚度的仪器,在管控涂层厚度质量的品质中起着至关重要的作用,大多数的用户对于涂层膜厚仪的工作原理及校验方法还不是很了解。本文为大家介绍了涂层膜厚仪的工作原理及校验方法,感兴趣的用户可以看看。
目前市面上常用的铝基涂层膜厚仪以及铁基涂层膜厚仪主要用于的就是涡流法以及磁性法。
涡流检测方法和用于金属加热、感应淬火的感应加热技术有某些相似指出。例如,都是根据电池感应原理,使放在一个或几个感应线圈里面或附近的零件中感应出涡流来。热由于I*2R产生的,临沂膜厚测试仪,这是零件中涡流所引起的损失。
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光学膜厚测量仪
光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品表面时,薄膜表面的反射光来测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。由于光学测量膜厚方法准确、无***,且光谱反射法比椭偏仪操作简单、测试速度快,适合测量具有结构的薄膜。
设备性能指标:
1、测量薄膜厚度范围:4nm~30um(使用10x、15x物镜,样品折射率为1.5左右时,4nm~2um(使用40x物镜);
2、测试面积:光栏尺寸(250um)/物镜倍率;
3、该设备显微镜物镜:5x、10x、15x、40x。其中5x物镜用于寻找测试区域,10x和15x物镜用于测试薄膜厚度;
4、40x物镜用于测试厚度低于2um的薄膜厚度;
5、测试精度:测试膜层总厚度的0.2%或2nm中的较大者;
6、光源:灯、钨灯;
7、测试波长范围:190nm~1100nm;
8、大测试样品尺寸:8寸。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素及注意事项
涂层膜厚仪如今已经应用到各行各业当中,但是很多的用户在使用涂层膜厚仪时,并没有按照相应的规范进行操作,膜厚测试仪批发,这样就会导致测量结果的不准确性。本文简单的介绍了涂层膜厚仪的工作原理。
1.磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,膜厚测试仪厂家,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,膜厚测试仪哪家好,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。
2.涡流测厚原理:利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
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