非接触膜厚检测仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
光学膜厚测量仪
光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品表面时，薄膜表面的反射光来测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。由于光学测量膜厚方法准确、无***，非接触膜厚检测仪厂家，且光谱反射法比椭偏仪操作简单、测试速度快，适合测量具有结构的薄膜。
设备性能指标：
1、测量薄膜厚度范围：4nm～30um（使用10x、15x物镜，样品折射率为1.5左右时，4nm～2um（使用40x物镜）；
2、测试面积：光栏尺寸（250um）/物镜倍率；
3、该设备显微镜物镜：5x、10x、15x、40x。其中5x物镜用于寻找测试区域，10x和15x物镜用于测试薄膜厚度；
4、40x物镜用于测试厚度低于2um的薄膜厚度；
5、测试精度：测试膜层总厚度的0.2%或2nm中的较大者；
6、光源：灯、钨灯；
7、测试波长范围：190nm～1100nm；
8、大测试样品尺寸：8寸。
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荧光膜厚仪介绍
X射线荧光(XRF)测厚仪，简称荧光测厚仪、荧光膜厚仪，非接触膜厚检测仪批发，是在很多领域被广泛应用的高精度仪器，那么什么是XRF呢? XRF，X射线荧光光谱分析法(X Ray Fluorescence)，利用初级X射线光子或其他微观察离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光而进行物质成分分析和化学态研究的方法。荧光膜厚仪又是什么呢？
荧光膜厚仪俗称X射线荧光测厚仪、荧光测厚仪、荧光膜厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。比如金属镀层检测，PCB线路板镀层分析等。
荧光膜厚仪原理是将X射线照射在样品上，濮阳非接触膜厚检测仪，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，非接触膜厚检测仪价格，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
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半导体膜厚测试仪
能谱匹配软件
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。
块体检量线软件（适用于电镀液分析）
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。
绘图软件（选配件）
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。
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景颐光电质量可靠-非接触膜厚检测仪价格-濮阳非接触膜厚检测仪由广州景颐光电科技有限公司提供。广州景颐光电科技有限公司在光学仪器这一领域倾注了诸多的热忱和热情，景颐光电一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创辉煌。相关业务欢迎垂询，联系人：蔡晓东。