东沙群岛光学膜厚仪-景颐光电喜迎客户-反射光学膜厚仪

光学膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

半导体膜厚测试仪

X射线发生系统采用了聚光导管

由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，反射光学膜厚仪，从而可以提高微小样品的膜厚测量及***物质测量的精度。

无需液氮的半导体检测器

在进行薄膜测量与***物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是的，不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。

能谱匹配软件

可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。

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涂层膜厚仪特性：

1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和***的光路转换聚焦系统;

2)拥有无损变焦检测技术，分光光学膜厚仪，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm;

3)EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，检测层Ni和第三层Ni的厚度);

4)配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的位移和同时检测;

5)可同时分析23个镀层，24种元素，测量元素范围：氯Cl(17)- 铀U(92)，涂镀层分析范围：锂Li(3)- 铀U(92)，涂镀层检出限：0.005μm;

6)人性化封闭软件，东沙群岛光学膜厚仪，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作;

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光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜产品的测量

光学膜厚仪的薄膜光谱反射系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度及nk，采用r-θ极坐标移动平台，可以在几秒钟的时间内快速的***所需测试的点并测试厚度，可随意选择一种或极坐标形、或方形、或线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。

针对不同的晶圆尺寸，盒对盒系统可以很容易的自动转换，光学光学膜厚仪，匹配当前盒子的尺寸。

用激光粒度分布仪测试胶体的粒度分布时应配合其它检测手段验证测试结果的准确性，同时应使用去离子水作为分散介质，防止自来水中的电解质造成颗粒团聚影响测试结果。

适用于已知折射率的单一物质粒度分布测试，因此测试前要知道被测样品的折射率，折射率选取的不同会对测试结果造成一定的影响。

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