c扫描应用范围
近年来，超声波扫描显微镜（C-SAN）已被成功地应用在电子工业，尤其是封装技术研究及实验室之中。由于超音波具有不用拆除组件外部封装之非***性检测能力，故C-SAN可以有效的检出IC构装中因水气或热能所造成的***如﹕脱层、气孔及裂缝…等。 超声波在行经介质时，若遇到不同密度或弹性系数之物质时，即会产生反射回波。而此种反射回波强度会因材料密度不同而有所差异.C-SAN即利用此特性来检出材料内部的缺陷并依所接收之讯号变化将之成像。因此，超声C扫描机构，只要被检测的IC上表面或内部芯片构装材料的接口有脱层、气孔、裂缝…等缺陷时，即可由C-SAN影像得知缺陷之相对位置。 C-SAN服务 超声波扫描显微镜(C-SAN)主要使用于封装内部结构的分析，因为它能提供IC封装因水气或热能所造成***分析，例如裂缝、空洞和脱层。 C-SAN内部造影原理为电能经由聚焦转换镜产生超声波触击在待测物品上，将声波在不同接口上反射或穿透讯号接收后影像处理，再以影像及讯号加以分析。 C-SAN可以在不需***封装的情况下探测到脱层、空洞和裂缝，且拥有类似X-Ray的穿透功能，并可以找出问题发生的位置和提供接口数据。
C扫描钎着率
挺杆钎焊质量需要用超声C扫描检测，为更方便挺杆的C扫检测及挺杆钎焊钎着率的计算，北极星辰公司研发了“挺杆C扫描钎着率分析计算软件”，超声C扫描，配合挺杆BSN-C1285水浸超声波C扫描自动化成像系统使用。挺杆C扫描钎着率分析计算软件为挺杆检测带来了极大方便，让挺杆C扫钎着率检测更方便、更、更，如果以前使用同类其它设备，超声C扫描公司，您会体验到：“本分析软件可使钎着率检测提高几十倍的效率，原来需要8小时才能完成的，现在几分钟就能完成了，而且更”。挺杆C扫描钎着率分析计算软件的主要特点如下：
一.自动切割功能
本例将检测图像切割为120个单元
注：分割数量为挺杆数量，分割数量根据挺杆数量任意设置
二.自动计算功能
自动切割完成以后，每一个挺杆的钎着率可以自动计算
三.自动报警功能
仅仅自动计算出钎着率，有了一个报表还是不够的，对钎着率不合格的挺杆，我们以红色标记，红色为不合格，这就是所谓的颜色报警.
超声C扫描检测设备
超声C扫描检测方式通常采用常规超声探头+双轴扫查器的方式，但是随着相控阵超声技术及计算机技术的快速崛起，诞生了以超声相控阵技术的C扫描检测技术，即超声相控阵多阵元探头+双轴扫查器的方式。相控阵超声C扫描系统具有更高的精度和缺陷检出率，超声C扫描机构，更快的检测速度和更高的图像分辨率等优点，因此其具有更高的发展空间，必定是今后超声C扫描检测的主流。
超声C扫描机构-超声C扫描-北京纳克无损公司(查看)由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。钢研纳克检测技术股份有限公司位于北京市海淀区高梁桥斜街13号。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前北京纳克无损在机械及工业制品项目合作中享有良好的声誉。北京纳克无损取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。北京纳克无损全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。
