景颐光电口碑相传-分光石英晶体膜厚仪-漯河石英晶体膜厚仪

石英晶体膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

影响涂层膜厚仪测量精度的因素

1.基体金属磁性

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。

2.基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。

3.边缘效应

本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

4.曲率

试件的曲率对测量有影响，这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。

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光学膜厚仪的应用

光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜，并且还有半导体液晶显示器等一系列的材料和产品的测量。一般的产品我们可以拿尺来进行测量，对精度要求也不高。但是对薄膜等产品来说，漯河石英晶体膜厚仪，精度是关系到产品的组装和性能的，所以一定要测量。测量仪功能不能能够准确的进行测量，还能及时的显示出数据。

其次可以计算薄膜厚度，一般采用光干涉法，薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。

再次，就是操作方便，石英晶体膜厚仪厂家，效率较高。这种优势对于薄膜测试的时候是非常重要的，毕竟薄膜测试是一种比较枯燥的工作，如果测试又比较繁杂的话，会使人心情焦躁，难免会影响测试时间和测试结果。

而操作方便，容易上手，半导体石英晶体膜厚仪，几秒钟内即可完成测量和数据分析，发展潜力巨大。

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膜厚仪的种类

随着科技的进步，行业的发展，分光石英晶体膜厚仪，膜厚仪的适用范围逐渐扩大，同时它的使用需求量也在不断的增长，膜厚仪属于一种薄膜厚度测量仪器，在很多的行业领域都得到了重要的应用，其实这种仪器有很多种类。今天我们来看看膜厚仪的种类及选择方法：

膜厚仪的种类：

其实在行业的发展当中，这种仪器主要被分成了三大类型，分别是磁感型、电涡流型、荧光X射线型;种类型主要使用了磁石感应的远离，让磁石通过探头经过非铁磁覆盖层，后进入到仪器当中的铁磁机体，来确定可以通过的磁通大小来达到测试的目的，随着行业的发展，这种类型使用过程中的误差范围越来越小，量程也随之增加，所以它通常被运用在油气层的测量方面。

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