分光膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
涂层膜厚仪常见问题及注意事项
涂层厚度测试检验漆膜涂装质量的重要方式，很多用户在使用涂层膜厚仪时，由于没有严格按照说明书进行操作，就可能出现测量结果不准确的问题。本文就给大家带来涂层膜厚仪常见问题及注意事项。
测试数值偏差
新仪器与原来使用的仪器并非同一品牌、同一型号。由于仪器之间的差异性，南通分光膜厚仪，测试结果就会有所区别。
出现这样的问题原因是涂层膜厚仪在测量前校准选用的基点和校准的标准片不一样。为了使得仪器测试数据保持一致，涂层膜厚仪应使用同一个校准的零点基体上进行零点校准，同时也要选用同一片标准塑料膜片在同一校准基体上校准。这样测量得到的数据就能较为统一。
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阐述膜厚仪寿命长短与电池电压有密切关系
当电池长工作运用时，电压会升高。此时，电压的升高会惹起膜厚仪的测量误差或顺序凌乱。起因是镀层测厚仪分为磁式和涡流式两种。以磁性镀层测厚仪为例，用电磁感应法测量其原始镀层厚度。
位于元件外表的探针发生闭合磁路。随着探头与铁磁资料间隔的变动，磁路会产生不同水平的变动，分光膜厚仪批发，招致探头磁阻和线圈电感的变动。
应用这一原理，可以准确测量探头与铁磁资料之间的间隔，即涂层厚度。
涡流镀膜测厚仪的原理是：高频交流信号在探头线圈中发生电磁场，探头凑近导体时在线圈中造成涡流。探头离导电基板越近，涡流越大，反射阻抗越大。
该反应举措示意探针与导电基板之间的间隔，即导电基板上的非导电涂层的厚度。
膜厚仪电压的升高会招致仪器电源的缺乏，而关于磁性涂层，分光膜厚仪厂家，则会减弱仪器探头对基体的磁效应，使测量后果变小，分光膜厚仪价格，或涂层厚度良好。
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光学膜厚测量仪
光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品表面时，薄膜表面的反射光来测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。由于光学测量膜厚方法准确、无***，且光谱反射法比椭偏仪操作简单、测试速度快，适合测量具有结构的薄膜。
设备性能指标：
1、测量薄膜厚度范围：4nm～30um（使用10x、15x物镜，样品折射率为1.5左右时，4nm～2um（使用40x物镜）；
2、测试面积：光栏尺寸（250um）/物镜倍率；
3、该设备显微镜物镜：5x、10x、15x、40x。其中5x物镜用于寻找测试区域，10x和15x物镜用于测试薄膜厚度；
4、40x物镜用于测试厚度低于2um的薄膜厚度；
5、测试精度：测试膜层总厚度的0.2%或2nm中的较大者；
6、光源：灯、钨灯；
7、测试波长范围：190nm～1100nm；
8、大测试样品尺寸：8寸。
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