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涂层膜厚仪校验方法
涂层膜厚仪常用的校验方法就是零点校准以及多点校准。
1.零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准。
（1）选定一块调零板，调零板就是无涂层的金属底材。（由于工件表面粗糙度不同，调零后，再测不一定是的零位，这属于正常现象。）
（2）在一起的侧单界面，非接触膜厚仪哪家好，选择校准，非接触膜厚仪价格，然后零位校准，然后将探头垂直并平稳地紧压在基体上，一起会自动进行零位校准。
（3）重复上述的1、2步骤，安庆非接触膜厚仪，就可以可以获得更加的零点，提高测量精度。
2.多点校准：使用标准片来进行校准，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
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膜厚测试仪
膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。
手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。
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测厚仪膜厚仪检测镀层厚度的原理
磁性测厚法是利用被测试样与标准磁体之间的吸引力的变化来转换成镀层的厚度。这种方法只能适用于对磁性能敏感的基体上的非磁性镀层，如钢铁基体上的铜、锌、锡等镀层。钢件上的镍镀层就不能很好地测量出结果。
磁性测厚法的优点是对钢铁基体上的非磁性镀层提供了一种快速的测量方法，其准确度可达85%-90%。测量样件的粗糙度对测量结果有影响。
如果被测件的基体很薄时，比如样片厚度低于0.25mm时，非接触膜厚仪批发，会有较大测量误差，这时可以在样片后另加一个与基体材料相同的厚一些的无镀层材料来减少误差。
磁性法的缺点是受磁性能要求的限制，所以适应于该方法的基体材料和镀层有限。
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