光学薄膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
区分涂层测厚仪与超声波测厚仪的方法
涂层测厚仪分为磁性和涡流两种，也有磁性涡流二合一两用型的。常用于测量底材是金属的表面镀层的厚度，所以也叫做镀层测厚仪。
磁性测厚仪专测量磁性金属如钢铁上面镀层厚度（镀层除磁性金属，如钢铁、镍以外），光学薄膜厚仪价格，非磁性的铜、铝、锡等上面的镀层就测不了。
涡流测厚仪专测量非磁性金属，芜湖光学薄膜厚仪，比如铜、铝等上面的绝缘层厚度（涂层必须是非导电材料）。
超声波测厚仪是测量木材、塑胶、玻璃等非金属表面涂镀层厚度的测厚仪。价格相当昂贵。
所以有的在喷涂过程中测量用普通的涂层测厚仪可代替，具体测量方法如下：将普通涂层测厚仪膜片（校准片）与没进行过表面处理的产品放在一起，然后喷涂，结束后用仪器测量膜片厚度，从而得知产品涂层的厚度。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素
附着物质
仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。
探头压力
探头置于试件上施加的压力大小会影响测量的读数。因此本仪器探头用弹簧保持一个基本恒定的压力。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素
1.基体金属磁性
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，光学薄膜厚仪哪家好，低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。
2.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
3.边缘效应
本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
4.曲率
试件的曲率对测量有影响，这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
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