电阻-上海提隆-薄膜电阻

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      电子元器件的基本失效率取决于工作应力(包括电、温度、振动、冲击、频率、速度、碰撞等)。除个别低应力失效的元器件外，薄膜电阻，其它均表现为工作应力越高，0204色环电阻，失效率越高的特性。为了使元器件的失效率降低，所以在电路设计时要进行降额设计。降额程度，除可靠性外还需考虑体积、重量、成本等因素。不同的元器件降额标准亦不同，实践表明，大部分电子元器件的基本失效率取决于电应力和温度，因而降额也主要是控制这两种应力，以下为电子产品常用元器件的降额系数：

①电阻的功率降额系数在0.1～0.5之间。

②二极管的功率降额系数在0.4以下，反向耐压在0.5以下。

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视频作者：上海提隆电子有限公司

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片状电阻:

      金属箔电阻(Metal Foil Resistor)是通过真空熔炼形成镍铬合金，然后通过滚碾的方式制作成金属箔，再将金属箔黏合在氧化铝陶瓷基底上，再通过光刻工艺来控制金属箔的形状，从而控制电阻。金属箔电阻是目前性能可以控制到hao的电阻。

     厚膜电阻(Thick Film Resistor)采用的丝网印刷法，就是再陶瓷基底上贴一层钯化银电极，然后在电极之间印刷一层二氧化钌作为电阻体。厚膜电阻的电阻膜通常比较厚，大约100微米。厚膜电阻是目前应用的电阻，价格便宜，容差有5%和1%，绝大多数产品中使用的都是5%和1%的片状厚膜电阻。

      薄膜电阻(Thin Film Resistor)就是氧化铝陶瓷基底上通过真空沉积形成镍化铬薄膜，通常只有0.1um厚，只有厚膜电阻的千分之一，然后通过光刻工艺将薄膜蚀刻成一定的形状。Thin Film工艺在此前电容和电感的文章中已经提到过多次了，光刻工艺十分jin确，可以形成复杂的形状，因此，薄膜电容的性能可以控制的很好。

如何保证小电阻测量的精度和重复性？

测试描述：

随着大功率应用，如光伏、风电、电动汽车等新能源领域的推广和普及，线路中的高压或大电流的精密监测给工程师提出了较高的挑战。“取样电阻”是比较常见的电流测试方式，依据欧姆定律 I=V/R，只需要测量已知电阻 “Rshunt”上的电压 V（电压测量技术非常成熟。），低温漂电阻，即可获得线路的电流。

当电流较大时，电阻 R 值往往要求非常小（避免过大的分压和电阻发热等），甚至毫欧、微欧级别，而且电阻的误差直接影响电流测量精度。举个例子，电阻，使用 10mΩ 电阻测量 100A 电流，即使电阻测量误差 1mΩ，会导致电流 10A 的误差。