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元器件可靠性问题即基本失效率的问题,低温漂电阻,这是一种随机性质的失效,与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作应力水平。在一定的应力水平下,元器件的失效率会大大下降。为剔除不符合使用要求的元器件,包括电参数不合格、密封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等,应进行筛选试验,电子产品主要元器件的筛选试验一般要求:
购货商要提供以下测试报告,高温测试一般要焊接模拟测试,高温烤箱测试一般达不到实际焊接要求,测试可以通道式测试回流焊完成(力锋推荐:M系列测试型回流焊)完全模拟实际焊接生产曲线,这样测试过的器件品质更有保证!
①电阻在室温下按技术条件进行100%测试,剔除不合格品。
②普通电容器在室温下按技术条件进行100%测试,剔除不合格品。
③接插件按技术条件抽样检测各种参数。
④半导体器件按以下程序进行筛选:
目检→初测→高温贮存→高低温冲击→电功率老化→高温测试(模拟焊接测试)→低温测试→常温测试
筛选结束后应计算剔除率Q
Q=(n / N)×
式中:N——受试样品总数;
n——被剔除的样品数;
如果Q超过标准规定的上限值,则本批元器件全部不准上机





汽车级贴片色环电阻
CS R V汽车级贴片色环电阻,封装可做到0102,精度低,温漂低,符合 AE C -Q200,主要参数如下:
封装:0102/0204/0207
功率:1/8W 1/5W 1/4W 1/2W 2/5W 1W
精度:±0.1% ±0.25% ±0.5% ±1% ±5%
温漂:10/15/25/50/100
阻值范围:0Ω, 0.1Ω~ 3.4 M
符合A EC-Q200认证
如何保证小电阻测量的精度和重复性?
测试描述:
随着大功率应用,高精密电阻,如光伏、风电、电动汽车等新能源领域的推广和普及,线路中的高压或大电流的精密监测给工程师提出了较高的挑战。“取样电阻”是比较常见的电流测试方式,依据欧姆定律 I=V/R,电阻,只需要测量已知电阻 “Rshunt”上的电压 V(电压测量技术非常成熟。),精密电阻,即可获得线路的电流。
当电流较大时,电阻 R 值往往要求非常小(避免过大的分压和电阻发热等),甚至毫欧、微欧级别,而且电阻的误差直接影响电流测量精度。举个例子,使用 10mΩ 电阻测量 100A 电流,即使电阻测量误差 1mΩ,会导致电流 10A 的误差。
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