芯片老化试验箱厂家-山西芯片老化试验箱-天一瑞合

高低温试验箱具有较宽的温度控制范围，其性能指标均达到GB/T10592高低温试验箱技术条件，山西芯片老化试验箱，适用于按GB/T2423.1、2《电工电子产品环境试验 试验A：低温试验方法，试验B：高温试验方法》对产品进行低温及高温试验。适用于电工电子产品(包括元件、设备及其它产品)的高低温度试验.高低温试验箱采用可程式控制，易于操作，观察;高低温试验箱的制冷机采用全封闭式的压缩机，冷冻系统采用用单元或二元式低温回路系统设计;高低温试验箱的风路循环出风回风设计，可使开门瞬间温湿度回稳时间快。

恒温恒湿试验箱的操作误区

切勿重力敞开/闭合商品箱门，不然易致使箱门掉落，形成商品损坏，产生伤害事故;

商品长期停止运用时，应定时做驱除潮气处置，芯片老化试验箱供应商，防止损坏有关器材;

商品在转移时，芯片老化试验箱厂家，应小心留意防止损坏面板上的外表等易损零部件;

具体阅读本设备所附文件后，芯片老化试验箱价格，方可操作本设备;

本实验箱无防爆装置，不得放入易l燃易l爆物品干燥

在操作傍边，除非有必要，请不要翻开箱门，不然能够致使人身伤害以及设备误动作。高低温汽冲出箱外非常***箱门内侧仍然坚持高温形成烫l伤。

维护小常识：

　　1.恒温恒湿试验箱湿球水位之查看与调整

　　积水筒水位不可过高，使水溢出积水筒或过低使湿球测验布吸水不正常，影响湿球的准确性水位大概坚持六分满即可。积水筒水位之调整，可调整积水盒的凹凸。

　　2.恒温恒湿试验箱湿球测验布之替换

　　当测验布表面不洁净或变硬，或于做完温度操控后，继续做温湿球度操控前都必须替换测验布。测验布约三个月替换一次，替换时应用清洁布擦洗测温体[Sen-sor]，替换新测验布时应先清洁洁净。