测厚仪膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
光学膜厚测量仪
光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品表面时，薄膜表面的反射光来测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。由于光学测量膜厚方法准确、无***，且光谱反射法比椭偏仪操作简单、测试速度快，适合测量具有结构的薄膜。
设备性能指标：
1、测量薄膜厚度范围：4nm～30um（使用10x、15x物镜，样品折射率为1.5左右时，4nm～2um（使用40x物镜）；
2、测试面积：光栏尺寸（250um）/物镜倍率；
3、该设备显微镜物镜：5x、10x、15x、40x。其中5x物镜用于寻找测试区域，10x和15x物镜用于测试薄膜厚度；
4、40x物镜用于测试厚度低于2um的薄膜厚度；
5、测试精度：测试膜层总厚度的0.2%或2nm中的较大者；
6、光源：灯、钨灯；
7、测试波长范围：190nm～1100nm；
8、大测试样品尺寸：8寸。
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涂层膜厚仪工作原理及校验方法
感应加热系统为了产生所需要的加热速度，工作在高功率计。相反，涡流检查为了减小热损失和温度变化，通常工作在很低的功率级。此外在涡流设备中，由于被检查零件中的一些变化（如由于出现缺陷或尺寸改变所引起的变化）所引起的电负载改变，可通过电子电路来监视。
无论在涡流检测还是在感应加热中，工作频率的选择主要由“趋肤效应”决定。这种效应使涡流向接近带电感应线圈的零件表面集中。集肤效应随频率的增加而更加明显。
使用涡流法测厚时，利用高频交电流在探头线圈中产生一个电磁场，国产测厚仪膜厚仪，当探头靠近导电基体时，在导电基体中形成涡流，十堰测厚仪膜厚仪，探头与导电基体之间有非导电覆盖层阻隔，测厚仪膜厚仪批发，覆盖层越薄，导电基体中形成的涡流越大，对探头线圈产生反馈作用越大（反射阻抗越大），这个反馈作用量表征了探头与导电基体之间距离的大小，通过测量反馈作用的大小可测量出导电基体上非导电覆盖层的厚度大小。
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涂层膜厚仪常见问题及注意事项
校准后仪器依旧出现偏差
这样的问题也是比较常见的。一般来说用户都是使用测厚仪随机校准基体进行校准，这样就要求用户自己的产品的基体与随机基体的材料完全相同，这种情况基本上不可能的。所以，客户应用选择与待测样品基体一致的材料（没有涂层或镀层）上进行零点校准，再在上面用校正块、塑料薄膜进行校准，这次测量数据才能准确。
在检定涂层膜厚仪的时候，检定员都有一套准确的校准片来检定仪器，非接触式测厚仪膜厚仪，涂层膜厚仪检定合格后，但是很多用户在检定时都没有送检以前使用的校准片（一般是塑料薄片），我们在实际使用过程中只有使用准确的校准片，这样一来做校准才有意义，因为校准片是塑料片，难免磨损，建议2年左右换一片通过***检定的标准片。
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