MEMS材料刻蚀技术-半导体-湖南材料刻蚀技术

氮化***材料刻蚀加工厂——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，立足于广东省经济社会发展的实际需要，微流控材料刻蚀技术，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

ICP刻蚀设备能够进行GaN(氮化***）、SiN(氮化硅）、SiO（氧化硅）、AlGaN(铝***氮）等半导体材料进行刻蚀。

光刻胶是另一个剥离的例子。总的来说，深硅刻蚀材料刻蚀技术，有图形刻蚀和无图形刻蚀工艺条件能够采用干法刻蚀或湿法腐蚀技术来实现。为了复i制硅片表面材料上的掩膜图形，刻蚀必须满足一些特殊的要求。包括几方面刻蚀参数：刻蚀速率、刻蚀剖面、刻蚀偏差、选择比、均匀性、残留物、聚合物、等离子体诱导损伤、颗粒玷污和缺陷等。刻蚀是用化学或物理方法有选择的从硅片表面去除不需要的材料的过程。刻蚀的基本目标是在涂胶的硅片上正确的复i制掩模图形。有图形的光刻胶层在刻蚀中不受腐蚀源明显的侵蚀。

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深硅刻蚀是MEMS器件制作当中一个很重要的工艺。

典型的硅刻蚀是用含氮的物质与的混合水溶液。这一配比规则在控制刻蚀中成为一个重要的因素。在一些比率上，刻蚀硅会有放热反应。加热反应所产生的热可加速刻蚀反应，接下来又产生更多的热，这样进行下去会导致工艺无法控制。有时醋酸和其他成分被混合进来控制加热反应。一些器件要求在晶圆上刻蚀出槽或沟。刻蚀配方要进行调整以使刻蚀速率依靠晶圆的取向。取向的晶圆以45°角刻蚀，取向的晶圆以“平”底刻蚀。其他取向的晶圆可以得到不同形状的沟槽。多晶硅刻蚀也可用基本相同的规则。

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干法刻蚀也可以根据被刻蚀的材料类型来分类，MEMS材料刻蚀技术，如刻蚀氮化***、氧化硅、氮化硅、铝***氮等材料。

ICP（感应耦合等离子）刻蚀GaN是物料溅射和化学反应相结合的复杂过程。刻蚀GaN主要使用到和三氯化硼，刻蚀过程中材料表面表面的Ga-N键在离子轰击下，此为物理溅射，产生活性的Ga和N原子，氮原子相互结合容易析出氮气，Ga原子和Cl离子生成容易挥发的G***2或者G***3。

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