




光学膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
反射式膜厚测试仪
反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜,手机触摸屏ITO等镀膜厚度,PET柔性涂布的胶厚等厚度,LED镀膜厚度,建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。SR可用于测量2纳米到3000微米的膜厚,测量精度达到0.1纳米。 在折射率未知的情况下,还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。
此外,还可用于测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内。进行测量简单可靠,实际测量采样时间低于1秒。
同时,非接触光学膜厚仪,客户还可以通过软件自带数据库对材料,菜单进行管理并回溯检查测量结果。目标应用:半导体镀膜,光刻胶玻璃减反膜测量蓝宝石镀膜,光刻胶ITO 玻璃太阳能镀膜玻璃各种衬底上的各种膜厚,颜色测量卷对卷柔性涂布光学膜其他需要测量膜厚的场合
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素
表面粗糙度
基体金属何覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差何偶然误差。
每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,国产光学膜厚仪,还必须在未的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层,再校对仪器的零点。
磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测量厚度的工作。
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涂层膜厚仪的检测步骤:1、确定的检测位置应有代表性,在检测区域内分布宜均匀。检测前应清楚测试点表面的防火涂层、灰尘、油污等。
2、检测前对仪器进行校准,根据具体情况可采用一点校准(校零值)、二点校准或基本校准,经校准后方可开始测试。
3、应使用与试件基本金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准,也可用待涂覆试件进行校准。检测期间关机再开机后,济南光学膜厚仪,应对设备重新校准。
4、测试时,将探头与测点表面垂直接触,探头距试件边缘不宜小于10mm,并保持1~2s,读取仪器显示的测量值,反射光学膜厚仪,对测量值进行打印或记录并依次进行测量。测点距试件边缘或内转角处的距离不宜小于20mm。
没处涂层厚度的代表值不应小于设计厚度的85%,构建涂层厚度的代表值不应小于设计厚度。当设计对涂层厚度无要求时,涂层干漆膜总厚度:室外应为150μm,室内应为125μm,其允许偏差为-25μm。
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