




反射式膜厚测试仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
涂层膜厚仪常见问题及注意事项
校准后仪器依旧出现偏差
这样的问题也是比较常见的。一般来说用户都是使用测厚仪随机校准基体进行校准,反射式膜厚测试仪价位,这样就要求用户自己的产品的基体与随机基体的材料完全相同,这种情况基本上不可能的。所以,客户应用选择与待测样品基体一致的材料(没有涂层或镀层)上进行零点校准,再在上面用校正块、塑料薄膜进行校准,这次测量数据才能准确。
在检定涂层膜厚仪的时候,反射式膜厚测试仪厂家,检定员都有一套准确的校准片来检定仪器,涂层膜厚仪检定合格后,反射式膜厚测试仪批发,但是很多用户在检定时都没有送检以前使用的校准片(一般是塑料薄片),我们在实际使用过程中只有使用准确的校准片,这样一来做校准才有意义,因为校准片是塑料片,难免磨损,唐山反射式膜厚测试仪,建议2年左右换一片通过***检定的标准片。
欢迎咨询景颐光电了解更多反射式膜厚测试仪
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关于膜厚测量仪的介绍
景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理,机械结构集成的进口卤钨灯光源,使用寿命超过20000小时,紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。
通过内嵌式微处理器控制,小型光谱仪,光谱范围200NM -250ONM(波长范围根据配置选择),分辨精度可达3648像素,16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量,可测量反射率、颜色、膜厚等参数。
可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量,在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。
OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法,包含了类型丰富的材料折射率数据库,开放式材料数据库,有效地协助用户进行测试分析,测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。
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光谱膜厚测厚仪概念及性能优势
光谱膜厚测厚仪,采用下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价高、适用性强的机型。该系列仪器适用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。
光谱膜厚测厚仪概念
凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量,如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。
可以对各种板材和加工零件作准确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。
广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
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