




膜厚测量———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
光谱膜厚测量仪常用类型及准确操作的小技巧
基体金属特性对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,膜厚测量价格,应当与试件基体金属的电性质相似。
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,无损检测 如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。不应在试件的弯曲表面上测量。
通常由于光谱膜厚测量仪的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
测量前,应表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素及注意事项
涂层膜厚仪如今已经应用到各行各业当中,但是很多的用户在使用涂层膜厚仪时,膜厚测量厂家,并没有按照相应的规范进行操作,这样就会导致测量结果的不准确性。本文简单的介绍了涂层膜厚仪的工作原理。
1.磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。
2.涡流测厚原理:利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
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光学膜厚仪的应用
光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜,并且还有半导体液晶显示器等一系列的材料和产品的测量。一般的产品我们可以拿尺来进行测量,对精度要求也不高。但是对薄膜等产品来说,精度是关系到产品的组装和性能的,所以一定要测量。测量仪功能不能能够准确的进行测量,还能及时的显示出数据。
其次可以计算薄膜厚度,淮北膜厚测量,一般采用光干涉法,薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、快速的光学薄膜厚度测量技术,我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
再次,就是操作方便,效率较高。这种优势对于薄膜测试的时候是非常重要的,毕竟薄膜测试是一种比较枯燥的工作,如果测试又比较繁杂的话,会使人心情焦躁,难免会影响测试时间和测试结果。
而操作方便,容易上手,几秒钟内即可完成测量和数据分析,发展潜力巨大。
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