Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有***的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.
主要用于测试二极管，X-RAY检测价格，三极管，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ，IGBT，IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。
无损检测方法很多，据美国***宇航局调研分析，其认为可分为六大类约70余种。但在实际应用中比较常见的有以下几种：目视检测（VT）目视检测，X-RAY检测，在国内实施的比较少，但在国际上非常重视的无损检测阶段首要方法。按照国际惯例，目视检测要先做，以确认不会影响后面的检验，再接着做四大常规检验。例如BINDT的PCN认证，就有专门的VT1、2、3级考核，更有专门的持证要求。VT常常用于目视检查焊缝，焊缝本身有工艺评定标准，都是可以通过目测和直接测量尺寸来做初步检验，发现咬边等不合格的外观缺陷，就要先打磨或者修整，之后才做其他深入的仪器检测。例如焊接件表面和铸件表面较多VT做的比较多，X-RAY检测仪多少钱，而锻件就很少，并且其检查标准是基本相符的。
微焦点X射线
针对大尺寸电子模块的缺陷检测和电子行业产品质量控制的需求，解决三维分层成像关键科学问题，实现电子模块封装、印刷电路板、高密封装等焊接质量的高精度自动无损检测，将应用于航天、航空、海装、陆装、战略等各类装备电子学系统的产品鉴定与评估、***性物理分析（DPA）、产品工艺质量鉴定等，X-RAY检测机，在装备的研制生产环节中、在装备研制过程中，识别由于产品设计、工艺设计、物料引入过程中所带来的缺陷，如PCB的孔断、焊点的枕头效应、裂纹、BGA器件焊球缺陷以及结构损伤等，提高电子产品质量和可靠性水平，提升产品研发设计和制造工艺水平，增强电子产品缺陷识别与分析能力。
采用了***的Computed laminography (CL)扫描模式和算法，具备高速扫描获得清晰断层图像的能力。
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